AT105系统用于片状或薄膜状电磁屏蔽材料及吸波材料的性能测试。系统使用一台Agilent ENA/PNA/PNA-L系列网络分析仪，配合不同的测试附件，即可完成电磁屏蔽材料的主要性能测试，包括：屏蔽效能、磁导率/介电常数、反射损耗、功率损耗。